Auswirkungen des beschleunigten Alterungstests auf elektronische Bauteile

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Auswirkungen des beschleunigten Alterungstests auf elektronische Bauteile

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Autor:Site-Editor
Veröffentlichungszeit: 2020-12-23
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Wenden Sie hohe Temperatur, hohe Luftfeuchtigkeit und einen bestimmten Antriebsstrom auf das optoelektronische Gerät für einen beschleunigten Alterungstest an. Nach den Testergebnissen kann beurteilt werden, dass die elektronischen Komponenten Funktionen und verlorene Funktionen sowie Abnahme und Ablehnung aufweisen und die Arbeitsbedingungen der optoelektronischen Komponenten anpassen und die Zuverlässigkeit analysieren können.
 

Beschleunigter Alterungstest:
1. Hochtemperatur-beschleunigter Alterungstest: Die grundlegendste Sache im beschleunigten Alterungsprozess ist die hohe Temperatur des Umweltstresstyps. Während des Experiments sollten die ausgewählten Parameter regelmäßig überwacht werden, bis der Abbau das Ende der Lebensdauer überschreitet.

 
Konstanter Temperaturtest:
Der Konstanttemperaturtest ähnelt dem Hochtemperaturbetriebstest, und die Anzahl der Prüfproben mit konstanter Temperatur und die Anzahl der zulässigen Fehler sollten angegeben.
 

 
Temperaturänderungstest:
Der Hochtemperatur-beschleunigte Alterungstest der temperaturwechselnden Temperatur soll die Temperatur schrittweise nacheinander erhöhen (z. B. 60 ° C, 85 ° C und 100 ° C).

 

 
Temperaturzyklus-Test:
Neben dem Temperaturzyklus für die optoelektronischen Bauelemente als Umweltbelastungstest kann der Temperaturzyklus auch die Alterung der röhrenelektronischen Bauteile beschleunigen. Der Zweck der beschleunigten Alterung des Temperaturzyklus besteht im Allgemeinen nicht darin, die Verschlechterung bestimmter Leistungsparameter zu verursachen, sondern eine zusätzliche Erklärung für die langfristige mechanische Stabilität des im Bauteil gekapselten optischen Pfades zu liefern.

 

 
Frequenzumwandlung Vibrationstest:
Bestimmung der Auswirkungen von Vibrationen auf verschiedene Komponenten optoelektronischer Bauelemente im Standardfrequenzbereich.

 

 
Es zeigt sich, dass es sehr notwendig ist, beschleunigte Alterungstests an elektronischen Bauteilen durchzuführen. Es kann die Mängel elektronischer Komponenten im Testprozess erkennen und die Mängel des Produkts im Voraus aufdecken, wodurch der Produktentwicklungszyklus verkürzt und Zeit gespart wird.
 

 


 
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